<bdo id="on1ax"></bdo>

        <menuitem id="on1ax"></menuitem>
        <tbody id="on1ax"></tbody>
          <bdo id="on1ax"></bdo>

          <menuitem id="on1ax"><dfn id="on1ax"><thead id="on1ax"></thead></dfn></menuitem>
        1. 瑞凱為30+行業提供產品性能測試解決方案

          GPS天線可靠性測試

              GPS全球定位系統已被全球的消費市場廣泛采用,不僅被用于商業領域,如軍事跟蹤、運輸車隊、科技探索, 而且還普遍用于許多消費類產品,如手機和個人數據助理(PDA)設備上。但是,目前很大一部分GPS接受機性能不穩定的根源,其實是由GPS接受天線所產生的,因此對GPS天線性能測試的要求是必須而迫切的。下面小編給大家講解一下GPS天線可靠性測試相關內容吧!

          工作環境
          工作溫度: -45 to +85℃
          貯藏溫度: -55 to +100℃
          濕熱
          溫度:40℃
          相對濕度:  10 to 95%

          天線低噪聲放大器指標

          天線低噪聲放大器指標


          天線低噪聲放大器增益測試圖


          天線低噪聲放大器增益測試圖

          天線低噪聲放大器噪聲系數測試圖

          天線低噪聲放大器噪聲系數測試圖

          天線網分測試圖
          天線網分測試圖天線網分測試圖-2


          GPS天線可靠性測試內容

          高溫老化試驗

          試驗設備:RK-TD-800高低溫試驗箱
          試驗依據:GB2423.02高溫實驗方法
          試驗標準:高溫工作50℃,通電7天,常溫恢復1~2H后測試
          試驗結果:(1)外觀無變化;(2)?S21不大于2.0dB;(3)?S22不大于0.2;(4)?I不大于1.0mA

          跌落試驗

          試驗設備:跌落臺
          試驗依據:GB2423.08-1995自由跌落實驗方法
          試驗標準:在100cm高度處按X.Y.Z三個面分別自由跌落在鋼性地板上共3次后測試
          試驗結果:(1)外觀無變化;(2)?S21不大于2.0dB;(3)?S22不大于0.2;(4)?I不大于1.0mA

          鹽霧試驗

          試驗設備:R-YW-1000
          試驗標準:將樣品置于溫度為35+1.1/-1.7℃,鹽溶液為4-6%(溶液PH值6.5~7.2),濕度為95~98%的鹽噴霧室中12小時
          試驗結果:外表表面無腐蝕

          高溫工作試驗

          試驗設備:RK-TD-800
          試驗依據:GB2423.02高溫實驗方法
          試驗標準:高溫工作85℃,通電放置2H后立即測試
          試驗結果:(1)外觀無變化;(2)?S21不大于2.0dB;(3)?S22不大于0.2;(4)?I不大于1.0mA

          高溫存儲試驗

          試驗設備:RK-TD-800
          試驗依據:GB2423.02高溫實驗方法
          試驗標準:高溫存儲85℃,放置16H,常溫恢復1~2H后測試
          試驗結果:(1)外觀無變化;(2)?S21不大于2.0dB;(3)?S22不大于0.2;(4)?I不大于1.0mA 

          低溫工作試驗

          試驗設備:RK-TD-800
          試驗依據:GB2423.01低溫實驗方法
          試驗標準:低溫工作-40℃,通電放置2H后立即測試
          試驗結果:(1)外觀無變化;(2)?S21不大于2.0dB;(3)?S22不大于0.2;(4)?I不大于1.0mA

          低溫存儲試驗

          試驗設備:RK-TD-800
          試驗依據:GB2423.01低溫實際方法
          試驗標準:低溫存儲-40℃,放置16H,常溫恢復1~2H后測試
          試驗結果:(1)外觀無變化;(2)?S21不大于2.0dB;(3)?S22不大于0.2;(4)?I不大于1.0mA

          恒溫恒濕試驗

          試驗設備:RK-TH-2000恒溫恒濕試驗箱
          試驗依據:GB2423.09恒溫濕熱實驗方法
          試驗標準:40±1℃,93±2%RH,放置48小時,恢復12小時后測試
          試驗結果:(1)外觀無變化;(2)?S21不大于2.0dB;(3)?S22不大于0.2;(4)?I不大于1.0mA

          振動試驗

          試驗設備:RK-VT-1000
          試驗依據:GB2423.10正弦振動實驗方法
          試驗標準:在振動頻率為10~55~10Hz 振幅為1.5mm 沿X.Y.Z 方向各振動2小時后測試
          試驗結果:(1)外觀無變化;(2)?S21不大于2.0dB;(3)?S22不大于0.2;(4)?I不大于1.0mA
          【相關推薦】
          查看詳情 + 上一條 芯片HAST測試技術規范
          查看詳情 + 下一條 JESD22-A102封裝IC(芯片)無偏壓高壓蒸煮試驗

          東莞市瑞凱環境檢測儀器有限公司 版權所有

          備案號:粵ICP備11018191號

          咨詢熱線:400-088-3892 技術支持:瑞凱儀器 百度統計

          聯系我們

          • 郵箱:riukai@riukai.com
          • 手機:189 3856 3648
          • 座機:0769-81019278
          • 公司地址:東莞市橫瀝鎮西城工業園二區B19號

          關注我們

          • <a title="瑞凱儀器客服" target="_blank" href="javascript:void(0);"></a>客服微信
          娇嫩粗大撑开灌满浓浆np同
          <bdo id="on1ax"></bdo>

                <menuitem id="on1ax"></menuitem>
                <tbody id="on1ax"></tbody>
                  <bdo id="on1ax"></bdo>

                  <menuitem id="on1ax"><dfn id="on1ax"><thead id="on1ax"></thead></dfn></menuitem>